波長色散X射線熒光光譜儀

產品介紹

波長色散X射線熒光光譜儀

一、簡介

 波長色散X射線熒光光譜儀S8 TIGER 4K有著高精密度和高準確度的*元素分析技術，和化學價態(tài)無關，直接的、非破壞性地分析固體、松散粉末和液體樣品，制樣容易，只需幾分鐘，操作方法安全，無需有害化學試劑。其分析性能很好，激發(fā)電流170mA，激發(fā)電壓60kV，可以4KW滿功率運行，輕元素分析性能也很好，光路靈活，無需壓縮空氣，機柜防塵涉及，占地面積小。

二、特點

1、高透光性的真空封擋

 在測量液體和松散粉末樣品時，程序控制的真空封檔將樣品室和光譜室分開，允許在固體和液體樣品的分析之間快速地切換。由于只有很小的樣品室充氦氣（氮氣），真空封擋顯著地降低氣體消耗量，同時探測器的穩(wěn)定性更高，結果的精密度更好。在測量過程中，*的真空封擋也可以在液體樣品泄漏或有粉塵樣品時保護光譜室，防止被污染。真空封擋是S8 TIGER的樣品保護TM包的一部分。

2、高精度光學定位測角儀

 采用高精度光學定位測角儀，定位精度高，測角儀直接到達預設角度，快速連續(xù)前進，無需反復調整，長期運行沒有磨損。角度準確度優(yōu)于±0.001°，角度重現性優(yōu)于±0.0001°,大掃描速度1200°/分鐘，大轉角速度4800°/分鐘。

3、*的變動理論α系數法

 采用基本參數法單獨地計算每一個樣品的校正系數，從而進行全面的集成的基體效應校正，這就是變動理論α系數法。其較顯著的優(yōu)點是：需要的標樣量少、校正系數更可靠、校準曲線可以適當延伸、操作方便、不需要很多的經驗來選擇影響元素、對于大的材料范圍和很寬的濃度范圍都可以得到可靠的結果。同時兼容固定理論α系數法、經驗α系數法基體效應校正，三種校正模式也可以混合使用。對于固定理論α系數法、變動理論α系數法、經驗系數法及混合校正方法只需一個用戶界面解決所有問題，非常易于使用。

4、*的未知燒失量校正

 對于燒失量或燒增量很大的樣品，通常的做法是將樣品預先灼燒，然后根據燒失量進行反算或將燒失量輸入到基體校正公式進行校正，分析全鐵的時候還有用鈷做內標的。布魯克未知燒失量校正功能不用測量燒失量，軟件會根據其它分析成分估算一個LOI，然后經過多次迭代和擬合，無需知道燒失量也可以進行準確的燒失量校正，大大地提高了分析速度也節(jié)約了分析成本。

5、角度偏移校正

 校正價態(tài)、礦源差異等引起的峰位位移，測量結果更準確。

6、幾何校正

 通過直徑–厚度–密度、直徑–厚度–質量或直徑–質量–密度三種樣品制備選項對未達到X射線穿透飽和深度的樣品進行幾何校正，從而得到更準確的測量結果。

7、制樣校正軟件

 對用熔融制樣或粉末樣需加粘合劑的制樣方法，采用任意配比、隨意稱量、準確輸入的方法，稱樣誤差小，稱樣速度快，不同的制樣方法可以共用同一工作曲線。

8、P10氣體密度穩(wěn)定器

 在P10氣體鋼瓶與流氣正比計數器之間安裝有氣體密度穩(wěn)定器，使探測器里的氣體密度始終保持恒定，保證測量結果精密度更高。流氣計數器采用數字式壓力控制，控制更精密。

9、高穩(wěn)定性的光譜室

 光譜室溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.05℃，避免了溫度變化引起分光晶體的面間距變化，從而引起被測量元素光子衍射角度的變化。

10、采用真空度控制測量

 對于固體樣品，采用真空度控制測量，只有達到預設的真空度才開始測量，避免了吸潮樣品在測試階段真空度的不*引起強度計數的差異。